アドバンテストは、省スペースメモリテスター「T5377S」を発売した。T5377S は1テストステーション専用とすることで、2テストステーション構成の従来機「T5377」に比べて設置フロア面積を約半分に縮小した。また、個々のチップの不良情報のデータ転送時間を従来機比3〜5倍に高速化している。さらにテストステーション当りのDCチャンネル構成を従来の64チャンネルから128チャンネルと倍増し、特性試験のスループットを従来機「T5377」比10％以上向上した。同時測定個数は最大128個、試験速度はDDRモード時で143MHz/286MHzとなっている。

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　従来機と完全互換となっているため、テストプログラムやプローブカードなどの資産の継承を可能にしている。DRAM、DDR-SDRAM、マスクROMなどの汎用メモリーのウェーハ試験およびフラッシュメモリーのパッケージ試験に対応する。従来機からの資産を継承し、機種変更に伴う相関確認の手間を省き、また、省フットプリント、高スループット化を実現したことで、少量多品種生産に対応している。柔軟にさまざまな生産形態に対応することで、テストコストの低減が図れるとしている。

　価格は基本構成で9600万円から。販売目標台数は初年度約30台。