アドバンテストは、汎用メモリーやMCPなどの特定用途向けメモリーのウェーハ試験及びパッケージ試験向けにメモリーテストシステム「T5372」の販売を開始した。
　
　T5372は、従来機種「T5371」と比較し、約2倍の143MHz/286MHz（DDRモード時）の試験速度を実現し、高速デバイスの動作速度に対応可能になった。また、デバイスの大容量化に合わせてFail Bit Compress Engine（不良データの伝送時間短縮化）やAddress Fail Memoryの2面独立動作モード（不良解析における効率的処理）などの不良解析機能の高速化により、テスト時間を従来機種比で約30％短縮しテストコストを低減することができる。

　またT5372は、従来機機種との互換性が高いため、操作性だけでなくテストプログラムやプローブカードなどの現有資産をそのまま使用できる。このため、機種変更に伴う相関確認などに手間を掛けることなく、最小の工数で移行することが可能になっている。

主な仕様
同時測定個数 ：	最大 128個（64個×2stn;×8/9bitの場合）
最大試験速度 ：	143MHz/286MHz(DDR mode)
テストヘッド：	最大2ステーション
DCユニット ：	最大32台/ｓｔｎ
プログラマル電源 ：	最大128台/ｓｔｎ
オプション ：	MRA４ev2,AFM,Fail Bit Compress Engine