アドバンテストは、メモリーテスター「T5588」およびハンドラ「M6300」を発売した。DDR2-SDRAMの量産試験向けに、１テストセルあたりの最大同測数を従来比2倍の512個まで拡張した。これまで、DDR2-SDRAMや1Gbpsを超えるDDR3-SDRAMの試験は、最速1.066Gbpsで最大256個同測が可能な同社「T5593」をベースにした「DDR-2 Test Solution」で対応していたが、T5588は最高伝送速度800Mbps のDDR2-SDRAM向けに最適化されており、量産ラインのテスト工程の低コスト化を実現する。同測数は従来比2倍を達成しながら、占有面積は1.3倍に抑えられている。また、操作には独自の「FutureSuite」を採用しており、ATL言語だけでなくC言語にも対応した。オプションとしてフラッシュメモリーの試験機能も装備可能となっており、市況の変化に応じてDRAM試験だけでなく、フラッシュメモリー試験用としての活用が可能となっている。価格は、1テスト・ステーション構成で2億3300万円から。
　
　 また、同時発売されるテストハンドラ「M6300」は、CSPやBGAなどの薄型メモリーに対応し、最大256個の同測が可能になっている。従来機「M6542AD」に比べて処理能力は倍増し、最大毎時1万2000個の高スループット化を実現した。また、コンタクト荷重の管理には、コンタクト圧力や速度を微細に制御できる空気圧制御方式を開発し、極小薄型パッケージを確実に吸着・搬送できるようになった。この新構造により、今まで測定品種ごとに必要としていた荷重管理部分の部品点数を従来比約70％削減し、品種交換時にかかるコストや工数を大幅に削減した。価格は基本仕様で4700万円から。

【主な仕様】　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　
［T5588］
同時測定個数：最大 512個（2テスト・ステーション仕様時）
最大試験速度：400MHz/800Mbps (DDRモード)
テストヘッド：最大2ステーション

［M6300］
対応パッケージ： TSOP-1, TSOP-2, CSP, BGA
スループット： 毎時1万2000個
温度印加： -30℃〜+125℃
-55℃〜+125℃（オプション対応）