アドバンテストは、MCP（Multi Chip Package）として搭載されたメモリー用テスター「T5587」を発売した。高速伝送技術を採用し、また、不良ブロックの取り組みとマスク機能「Bad Block Mask機能」を強化することで、DRAMおよびフラッシュメモリーを高速・高スループットでテストすることが可能となった。
　 T5587は、MCPに搭載されるDDR-SDRAMやNOR型/NAND型フラッシュメモリーなどの各種メモリーに1台で対応する。最大試験速度は200MHz/400Mbps (DDRモード)。NAND型フラッシュメモリーの高速試験に求められる測定データの書き込み時間を従来比約1/5に短縮し、また、高速なDDR-SDRAMやNOR型フラッシュメモリーのテストにも対応した。同時測定個数は、最大512個（2テスト・ステーション仕様時）となった。この種のテスターで512個の同時測定を可能にしたのは、同製品が「世界初」（アドバンテスト）としている。
　 さらに、ハンドラ「M6300」と接続することで、システムあたり最大512個の同測も可能となり、量産ラインでのテストコスト低減に大きく寄与する。
　 価格は、1テスト・ステーション構成で2億400万円、2テスト・ステーション構成で3億6500万円から。初年度20台の販売を見込んでいる。