News Center
IBMとST、次世代プロセスの技術開発で協業
[issued: 2007.07.25]
米IBM社と伊仏STMicroelectronics社は、半導体の開発および製造に使用される次世代プロセス技術の開発において協業することで合意したと発表した。
今回の合意には、32nmならびに22nmのCMOSプロセスの技術開発および設計技術開発、300mmウェーハ製造への応用に向けた先端研究が含まれる。さらに、中核となるバルクCMOS技術と付加価値の高い派生技術であるSoC(System On a Chip)技術の開発の双方を含んでいる。また、両社の合意には、これら技術を使用したSoC製品の設計スピードを向上させるIPおよびプラットフォームの開発協力も含まれる。 合意の一部には、両社が互いの開発設備内に開発チームを置くことが含まれている。バルクCMOS技術の開発に関しては、米国のEast FishkillとAlbanyにあるIBMの半導体研究開発センターにSTの研究開発チームを設置。STの300mmウェーハ研究開発センターと製造設備があるフランスのCrollesには、IBMが研究開発チームを設置、組込みメモリー、アナログ、RFなど付加価値の高い派生技術を共同開発する。
今回の合意により、STはIBMのCMOSテクノロジー・アライアンスのパートナーシップに参加することになる。
今回の合意に基づいて共同開発されたプロセスは、STのCrollesにある300mmのウェーハ製造設備、IBMを含むCommon Platformテクノロジーの製造メーカーの300mmウェーハ製造設備に投入されるという。
さらに、長期的な見通しとして、フランス原子力庁の研究機関であるCEA-LETIとSTの間で長年行ってきた共同研究活動を基に、IBM、CEA-LETI、STの三者は、将来の技術ノードに向けた先端技術に関して協業する計画という。
今回の合意には、32nmならびに22nmのCMOSプロセスの技術開発および設計技術開発、300mmウェーハ製造への応用に向けた先端研究が含まれる。さらに、中核となるバルクCMOS技術と付加価値の高い派生技術であるSoC(System On a Chip)技術の開発の双方を含んでいる。また、両社の合意には、これら技術を使用したSoC製品の設計スピードを向上させるIPおよびプラットフォームの開発協力も含まれる。 合意の一部には、両社が互いの開発設備内に開発チームを置くことが含まれている。バルクCMOS技術の開発に関しては、米国のEast FishkillとAlbanyにあるIBMの半導体研究開発センターにSTの研究開発チームを設置。STの300mmウェーハ研究開発センターと製造設備があるフランスのCrollesには、IBMが研究開発チームを設置、組込みメモリー、アナログ、RFなど付加価値の高い派生技術を共同開発する。
今回の合意により、STはIBMのCMOSテクノロジー・アライアンスのパートナーシップに参加することになる。
今回の合意に基づいて共同開発されたプロセスは、STのCrollesにある300mmのウェーハ製造設備、IBMを含むCommon Platformテクノロジーの製造メーカーの300mmウェーハ製造設備に投入されるという。
さらに、長期的な見通しとして、フランス原子力庁の研究機関であるCEA-LETIとSTの間で長年行ってきた共同研究活動を基に、IBM、CEA-LETI、STの三者は、将来の技術ノードに向けた先端技術に関して協業する計画という。
TOP 10 ページ
- “金融恐慌”で、さらなる災難に見舞われるDRAMサプライヤ
- 業界再編以外に残された道は
- MicronのQimondaを買収、アナリストが可能性を示唆
- 2008年Q2のNAND型フラッシュメーカーランキング、 iSuppliが発表、採算がとれたのはSamsungだけ
- ASML、EUVリソ開発は順調と発表
- Hynix、200mm工場閉鎖の前倒しで 300mmへの移行を加速
- 450mmウェーハは必要ですか?
- IBM、新型メモリー「Racetrack」を台湾ITRIと共同研究
- SEMIがSEC/Nを買収、 中古半導体製造装置市場も包括サポートへ
- KLA-Tencor、EUV対応のモデリング・パターン推定ツールを発表
SI Japan テクニカルセミナー
最近のテクニカルセミナー情報
-
Semiconductor International日本版
第21回テクニカルセミナー
『太陽電池を輝かせる製造技術~究極のエコ技術の現在と未来~』
-
Semiconductor International日本版
第20回テクニカルセミナー
『MEMS ルネッサンス』
-
Semiconductor International日本版
第19回テクニカルセミナー
「32nmを描くリソグラフィの選択肢
?Double Patterningか?直描か?」
セミナー関連記事はこちらから -
Semiconductor International日本版
第18回テクニカルセミナー
「DRAM 1ドル時代の量産技術
?装置とプロセスをどう制御するのか??」
関連記事はこちらから
EVENTS
-
第1回アナログセミナー「アナログICを選ぶ、使う」
2008年 12月03日ー2007年12月03日
東京コンファレンスセンター・品川(東京・品川) -
航空宇宙産業技術展2008(AITEC 2008)
2008年 11月27日ー2007年11月29日
名古屋市国際展示場(ポートメッセ名古屋) -
計測展2008 OSAKA
2008年 11月26日ー2007年11月28日
大阪国際会議場(グランキューブ大阪)









