横河電機は、DRAM量産用メモリーテスタ「MT6111 メモリテストシステム」の販売を開始したと発表した。同社では新製品について、2007年度に30台、2008年度に70台の販売を目指すという。

　MT6111は、「MT6060 メモリテストシステム」の後継機で、量産時のテストタイムを20％削減してテスト効率を向上。DRAMを主要ターゲットにし、高いコストパフォーマンスを実現した量産用のメモリーテスタで、NAND型およびNOR型フラッシュメモリーにも対応している。

　新製品は同時測定個数は従来比2倍となる最大1024個（2ステーション仕様）に対応している。各ステーションの独立稼動により装置稼働率を向上し、テスト工程における生産性向上に寄与する。DRAMを低コストで効率よくテストするため、最高動作周波数を140MHzに抑え、量産用に機能を絞り込むことで優れたコストパフォーマンスを実現した。また、テスター本体のフロア占有面積を従来比で60％縮小させ、検査工程の省スペース化によるトータル運用コストの低減にも貢献するという。