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図1 メモリー層のレジストパターン
開口数(NA)0.7のKrF露光装置でパターニング。k1ファクタは0.37。ルールベースのOPCを使用(出典:米Matrix Semiconductor社) |
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図2 メモリーセルのTEM写真
ダイオード(Poly-Si)上にアンチヒューズ(SiO2)を堆積し、上部のW配線に接続されている。8V以上の電圧をかけるとアンチヒューズが破壊され電流が流れるようになる。
(出典:米Matrix Semiconductor社) |
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図3 三次元メモリーの断面図
CMOS回路の上に4層のメモリー層が積層している。メモリー層の上にAl配線層があり、外部インターフェース部に接続している(出典:米Matrix Semiconductor社) |
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図4 Matrixのメモリーアーキテクチャ
第2世代目までは左のチェス盤構造を使用していたが、第3世代目からセグメンテッドワードライン構造を採用。これによりチップ面積が32%縮小化と読み出し速度が向上した(出典:米Matrix Semiconductor社) |
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