Current Issue 2005年9月号

..2005年9月号


	工場の生産性をいかにして向上させるか？
	ウェーハの口径の大型化など、大きな変更を行うことなく製造装置の生産性を上げることはまだまだ可能だ。



	グローバル競争勝ち組の法則 Semiconductor International日本版編集ディレクター津田建二


	SEMIのInterface A規格の詳細が決定
	プロセスの複雑化に伴いIMの導入が加速
	配線ばらつきのモデリングが必須技術に
	新たなトレンドがATEオープンアーキテクチャを推進


	SIJ第1回テクニカルセミナーが開催


	CymerとZeissがタッグを組みFPD製造装置市場に参入
	進化するMIGFET
	マスクメーカーに休みなし
	CMPやRIEを駆使し裏面故障解析を行う蓄積された歪みエネルギーにより信頼性ストレス試験を行っている間に剥離や損傷が発生する
	計測できないものを測定する
	IMECが三次元パッケージング技術の研究開発を開始
	継続するSi基板の検討


	中国電子機器メーカーが、社内IC設計体制を強化専門分野への集中こそ中国の中小パッケージングテスト企業が発展する道


	米SEMATECH社社長兼CEO Michael Polari氏


	9月号 New Products


	Editors' Choice Best Products Awards