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| ..2007年1月号 | ![]() |
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| CMPのアウトソーシングでプロセス開発と材料評価を効率化 | ||
CMPの能力をアウトソーシングすることによって、米Freescale Semiconductor社は、技術評価を加速させ、社内の資源(リソース)を必要とされる他の生産プロセスに集中してきた。 |
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| 東の横綱ダブルパターニング、西の関脇ベベルエッジ、 小結MEMSが前頭筆頭太陽光発電とがっぷりよつ、 SEMICON Japanは今年も大入り 日本版 編集長 高橋 潤 |
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| 半導体産業に関わる幸せを経験しよう 日本版 編集顧問 津田建二 |
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| 新材料や複雑なプロセスに向けた先端測定技術 | ||
| 65nm以降で配線の高信頼性を実現する | ||
| 着々と開発が進むウェーハレベルの三次元インテグレーション技術 | ||
| High-kと親和性の良いゲート電極を低コストで実現 | ||
| Stan Williams氏 米Hewlett-Packard社 |
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| イノベーションこそが私たちの血となる | ||
| FinFETでアナログ・RFアプリケーションを実証 | ||
| 45nmおよび32 nmのCu/Low-kの課題 | ||
| ダブルパターニングが延命技術として定着か | ||
| プロセスばらつきに取り組むDFM | ||
| ウェーハエッジ欠陥を検出し分類するシステム | ||
| さらに薄くなる積層型パッケージ | ||
| Inside China | ||
| 1月号 New Products | ||