米Keithley Instruments社は2008年8月、同社の「4200-SCS型 半導体特性評価システム」用ソフトウエアの新版「Keithley Test Environment Interactive（KTEI） V7.1」を発表した。オプションのハードウエア「4200-CVU（Capacitance Voltage Unit）型パワーパッケージ」とともに用いることにより、C‐V試験、パルス試験、I‐V試験を1台で行うことができる。

　KTEI V7.1は、400種類以上のデバイス試験ライブラリを備えている。うち20個はC‐V試験に特化したものだ。4200-CVU型パワーパッケージと組み合わせると、最大200V（差動では400V）、300mAのC‐V試験が可能となる。このような耐圧を備えることから、自動車やディスプレイ、MEMS（Micro Electro Mechanical Systems）などで使用される、LDMOS（Laterally Diffused MOS：横方向拡散MOS）などのパワー半導体デバイスの試験を行うことができる。そのほか、低電圧CMOSやHigh-k絶縁膜などの特性評価に適した準静的（Quasistatic）C‐V測定も行える。

　既存の4200-SCS型については、無償でKTEI 7.1にアップグレードできる。4200-CVU型パワーパッケージはオプションとして注文可能で、価格は38万円。