News Center
アドバンテスト、アナログデバイス向け
低コストテスター「ADS1911」を発売
[issued: 2008.12.01]
アナログ・テスト・システム「ADS1911」
アナログIC やディスクリート・デバイスは、携帯電話、デジタル家電、ゲーム機、自動車分野など多方面で大量に使用される反面、単価が安いものが多く、それらの半導体試験にはテスト・コスト低減が求められてきた。ADS1911は、アナログIC、ディスクリート・デバイスを最大8 個まで同時試験可能で、DC 試験における測定精度を保証するため、高精度DC キャリブレーション機能を新たに採用した。この機能により、製造現場における複数のADS1911 間での性能差を最小にすることができ、歩留まりの向上が期待できるとしている。さらに、テスト・プログラム作成ツールで容易にプログラム作成が可能となっており、測定条件はプルダウン・メニュー方式で入力が可能となった。
TOP 10 ページ
SI Japan テクニカルセミナー
最近のテクニカルセミナー情報
-
Semiconductor International日本版
第21回テクニカルセミナー
『太陽電池を輝かせる製造技術~究極のエコ技術の現在と未来~』
-
Semiconductor International日本版
第20回テクニカルセミナー
『MEMS ルネッサンス』
-
Semiconductor International日本版
第19回テクニカルセミナー
「32nmを描くリソグラフィの選択肢
?Double Patterningか?直描か?」
セミナー関連記事はこちらから -
Semiconductor International日本版
第18回テクニカルセミナー
「DRAM 1ドル時代の量産技術
?装置とプロセスをどう制御するのか??」
関連記事はこちらから
EVENTS
-
第1回アナログセミナー「アナログICを選ぶ、使う」
2008年 12月03日ー2007年12月03日
東京コンファレンスセンター・品川(東京・品川) -
航空宇宙産業技術展2008(AITEC 2008)
2008年 11月27日ー2007年11月29日
名古屋市国際展示場(ポートメッセ名古屋) -
計測展2008 OSAKA
2008年 11月26日ー2007年11月28日
大阪国際会議場(グランキューブ大阪)









