MAGAZINE ARTICLES
このページをホームページに登録Technology News
Wafer Processing
配線技術にはCNTが魅力的
[2007年07月号]
配線の方法として重要な役割を果たすことになるカーボンナノチューブ(CNT)が完成できそうだ。CNTは面白い特徴をいくつか持っている。高電流の維持もその中の1つであり、その値は109A/cm2を超える。この値は従来配線のおよそ3倍。さらにCNTは、超高熱容量、管方向の高速熱伝達、非常に高い機械強度、EM(エレクトロマイグレーション)に対する耐性も特徴としている。
今日用いられているCu配線技術を前進させるには、少なくとも大きな課題が2つあることが分かっている。1つは配線幅が狭くなるにつれ、Cuの抵抗率がバルク状の数値から著しく上がること。この現象は、表面積の増加と粒子界面における電子散乱が原因である。2つ目は配線幅が狭くなり電流密度が高くなると、その代償として温度が上昇し、EMの発生可能性が上がることである。
米Stanford University のGael Close氏とH.S. Philip Wong氏によると、将来のナノスケース配線の選択肢として、導電性高分子、金属化DNA、金属状ナノ配線、金属状CNTが挙げられる1)。シミュレーションによると、この中ではCNTが最も有望であり、Cuに比べて電力、遅れ、クロストーク、信頼性の点でより優れている可能性がある。
今年のIITC(International Interconnect Technology Conference)では、米Rensselaer Polytechnic Instituteのチームが、一度生長させたナノチューブの束を更に高密度化させることに着眼した。CNTは石英チューブ炉内でのCVDにより、異なるレシピ1または2を実行することで生長を行うことができる。レシピ1では、SiO2膜を熱的に500nm生成させたSi基板を用いてCNTの束を生長させる。まず始めに、SiO2表面をTi/Au薄膜を使用して選択的にマスクする。その後Si基板をフェロセン(FeCp2)とキシレンの混合気中に800℃でさらす。キシレンはカーボン原子の形成源として作用する。一方、フェロセン中の鉄はCNT生長の際の触媒として機能する。CNTはAu/TiではなくSiO2上に垂直に生長する。Au/Tiのパターンを変える事で、CNTの束を要望の形にすることができる。
今日用いられているCu配線技術を前進させるには、少なくとも大きな課題が2つあることが分かっている。1つは配線幅が狭くなるにつれ、Cuの抵抗率がバルク状の数値から著しく上がること。この現象は、表面積の増加と粒子界面における電子散乱が原因である。2つ目は配線幅が狭くなり電流密度が高くなると、その代償として温度が上昇し、EMの発生可能性が上がることである。
米Stanford University のGael Close氏とH.S. Philip Wong氏によると、将来のナノスケース配線の選択肢として、導電性高分子、金属化DNA、金属状ナノ配線、金属状CNTが挙げられる1)。シミュレーションによると、この中ではCNTが最も有望であり、Cuに比べて電力、遅れ、クロストーク、信頼性の点でより優れている可能性がある。
今年のIITC(International Interconnect Technology Conference)では、米Rensselaer Polytechnic Instituteのチームが、一度生長させたナノチューブの束を更に高密度化させることに着眼した。CNTは石英チューブ炉内でのCVDにより、異なるレシピ1または2を実行することで生長を行うことができる。レシピ1では、SiO2膜を熱的に500nm生成させたSi基板を用いてCNTの束を生長させる。まず始めに、SiO2表面をTi/Au薄膜を使用して選択的にマスクする。その後Si基板をフェロセン(FeCp2)とキシレンの混合気中に800℃でさらす。キシレンはカーボン原子の形成源として作用する。一方、フェロセン中の鉄はCNT生長の際の触媒として機能する。CNTはAu/TiではなくSiO2上に垂直に生長する。Au/Tiのパターンを変える事で、CNTの束を要望の形にすることができる。
図1 高密度化プロセス前後のCNT束側面図
図2 レシピ2を使用した場合の高密度化前後のCNT束
この高密度化が終了すると、束の形が当初の円筒状からdog-bone状に変化する。CNT束の配置が完全に終わると、高密度束は釘状になる。dog-bone形状はCNT束の終端における乱雑なネットワークにより形成されると考えられている。(図1a)この乱雑なネットワークは、あたかもCNTの根が生えたようにしっかりと固定する機能を行っている。よって、CNT束の中でも真中の部分のみが収縮される。(図1b)
レシピ2によって生長後のCNT束を高密度化させる様子が図2に示されている。この工程では直径の収縮(~8nm)、初期位置密度の向上(~50 tubes/_m2)、位置性の向上が見られる。レシピ1で生成されたCNT束とは異なり、束の終端も高密度化が行われている。
参考文献
1.G. Close et al, "Nanostructured Materials for Inter-connects," Advanced Metallization Conf. Proc., 2006, p. 3
SI Japan テクニカルセミナー
最近のテクニカルセミナー情報
-
Semiconductor International日本版
第21回テクニカルセミナー
『太陽電池を輝かせる製造技術~究極のエコ技術の現在と未来~』
-
Semiconductor International日本版
第20回テクニカルセミナー
『MEMS ルネッサンス』
-
Semiconductor International日本版
第19回テクニカルセミナー
「32nmを描くリソグラフィの選択肢
?Double Patterningか?直描か?」
セミナー関連記事はこちらから -
Semiconductor International日本版
第18回テクニカルセミナー
「DRAM 1ドル時代の量産技術
?装置とプロセスをどう制御するのか??」
関連記事はこちらから
EVENTS
-
第1回アナログセミナー「アナログICを選ぶ、使う」
2008年12月03日ー2007年12月03日
東京コンファレンスセンター・品川(東京・品川) -
航空宇宙産業技術展2008(AITEC 2008)
2008年11月27日ー2007年11月29日
名古屋市国際展示場(ポートメッセ名古屋) -
計測展2008 OSAKA
2008年11月26日ー2007年11月28日
大阪国際会議場(グランキューブ大阪)










