テスター大手の米Credence Systems社社長兼CEO Lavi Lev氏は2006年12月に現職に就任した。同氏は、設計から製造までの半導体インフラ広範囲にわたる経験を持ち、就任からまもなく多くの構造改革案を実施しているという。同氏の目標は同社利益の追求だとするが、同時にテスター技術をコアに据えながら半導体バリューチェーン構造の中で製品ラインナップを拡充していきたいとしている。

Semiconductor International 日本版（以下SIJ）：テストコストの高騰が懸念されている。

Lev：ハイエンドの高速デバイスでは製造コストのかなり高い比率がテストおよび検証コストにかかっていると聞いている。テスターには高い生産性とともにイニシャルコスト削減やサイクルタイム低減に向けた提案も求められている。

SIJ：SEMICON West 2007においては、「Sapphire」プラットフォームに搭載した新型テスター「D-6432DFT」を発表し、 6.4Gbps以上という高速のアットスピード（実際の速度）による安価なテストを実現した。

Lev：D-6432DFTは、6.4Gbpsのアットスピードテストを可能にした。MPUのテストを高速で、しかも安価にできるようになった。

SIJ：MPUのアットスピードテストは高価で難しかった。

Lev：1ピンあたりのテストコストは最高1万2000ドルに上るとされていた。それを同製品ではおおよそ2000ドルに低減した。

SIJ：この技術の開発には大きなブレークスルーがあった。

Lev：ハイエンドのプロセッサでは“Near-end Loopback”という技術が使用されている。テスターを使用することなく、実デバイスからテストデータを生成しテストされるデバイスへとループ状に戻す。コスト削減が期待できるが、パラメトリック測定や信号制御ができないというトレードオフがあった。そのため、高速なテストにはリスクが高すぎた。これを当社では直接戻すのではなく、遠回りさせる“Far-end Loopback”技術を開発した。Loopback時に安価なテスターを経由させるだけで、安価でしかも高感度で信号制御を可能にし、DCパラメトリックテストへのアクセスも得られるようになった。

SIJ：ハイエンドデバイスのテストに強みを持つSapphireシリーズだが、納入状況は？

Lev：大手では、米AMD社、米Intel社、伊仏合弁STMicroelectronics社などが採用している。

SIJ：その他の製品ラインナップは？

Lev：無線デバイスや自動車用デバイスのテストで優位性を発揮するDiamondシリーズがある。この製品は特に日本市場で活用してもらえると考えている。日本市場は、求める要求が高いが、コンシューマ製品や自動車用のテスターで成功するには日本のユーザーの要求に応える必要がある。

（聞き手：高橋 潤）