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12月号 New Products
[2007年12月号]
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Process
●枚葉式洗浄装置 Da Vinci Prime（DV-Prime）
連絡先：オーストリーSEZ社 www.sez.com
●300 mm対応全自動ダイシングソー DFD6362
連絡先：ディスコ www.disco.co.jp
●フルオートワイヤーボンダ FB-880
連絡先：カイジョー www.kaijo.co.jp
連絡先：オーストリーSEZ社 www.sez.com
●300 mm対応全自動ダイシングソー DFD6362
連絡先：ディスコ www.disco.co.jp
●フルオートワイヤーボンダ FB-880
連絡先：カイジョー www.kaijo.co.jp
Metrology and Inspection
●高解像S/TEM Titan380-300
連絡先：米FEI社 www.fei.com
●C-V測定モジュール 4200-CVU型
連絡先：米Keithley Instruments社 www.keithley.jp
●メモリー・テスト・システム T5781
連絡先：アドバンテスト www.advantest.co.jp
●集束イオン・電子ビーム加工観察装置 nanoDUE'T（NB5000形）
連絡先：日立ハイテクノロジーズ www.hitachi-hitec.com
●三次元形状計測装置 C10352-01
連絡先：浜松ホトニクス jp.hamamatsu.com
●RFテストソリューション
連絡先：アドバンテスト www.advantest.co.jp
●300mm対応RFテストテーブル
連絡先：ヨコオ www.yokowo.co.jp
連絡先：米FEI社 www.fei.com
●C-V測定モジュール 4200-CVU型
連絡先：米Keithley Instruments社 www.keithley.jp
●メモリー・テスト・システム T5781
連絡先：アドバンテスト www.advantest.co.jp
●集束イオン・電子ビーム加工観察装置 nanoDUE'T（NB5000形）
連絡先：日立ハイテクノロジーズ www.hitachi-hitec.com
●三次元形状計測装置 C10352-01
連絡先：浜松ホトニクス jp.hamamatsu.com
●RFテストソリューション
連絡先：アドバンテスト www.advantest.co.jp
●300mm対応RFテストテーブル
連絡先：ヨコオ www.yokowo.co.jp
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?装置とプロセスをどう制御するのか？?」
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金属材料のマグネトロンスパッタリングにおけるアーク抑制
JPN-ArcSputmetal-270-01.pdf
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2008年11月27日ー2007年11月29日
名古屋市国際展示場（ポートメッセ名古屋） -
計測展2008 OSAKA
2008年11月26日ー2007年11月28日
大阪国際会議場（グランキューブ大阪）
